レーザー回折式粒度分布計
仕様及び適用分野
形式
HORIBA LA-920
測定方法
フランホーファ回折とミー散乱理論の併用。
光源
He-Neレーザ (632.8nm) 2mV
検出器
リング状シリコンフォトダイオード
特徴
- 0.02μm~2000μmの粒子範囲を光学系を切り換えずに測定。
- 測定開始から2分で測定結果をアウトプット。
- 密度の異なる混合試料の測定が可能。
- 再現性が良い。
適用分野
セラミックス、プラスチック、食品、薬品、触媒、石炭、金属、塗料、顔料等の粉体・エマルジョン。