磁粉探傷試験(MT)

磁粉探傷試験は、試験体に磁性を与え、表面に磁粉と呼ばれる磁性体の微粉末を散布させて、きず部分に吸引されることによりできる磁粉模様によりきずを検出する方法です。
表面のきずだけでなく、表面直下（表面から数ミリメートル程度の深さ）のきずも検出できるのも特徴の一つです。