表面・局所分析
![表面・局所分析](/jp/group/ids/sites/g/files/jwhtju791/files/styles/original_image/public/2021-09/analysis_kv.png?itok=X7EBEMfI)
形状観察
- 各種材料の表面形状観察
- 結晶粒の形状観察
- 多層薄膜断面構造観察
- 極微小領域の組成分析
![エネルギー分散型X線検出器付 走査電子顕微鏡(SEM-EDS)](/jp/group/ids/sites/g/files/jwhtju791/files/styles/original_image/public/2021-09/shape_01.jpg?itok=ER4QImCu)
走査電子顕微鏡(SEM-EDS)
![微粉炭燃焼灰のSEM像及びEDX定性分析](/jp/group/ids/sites/g/files/jwhtju791/files/styles/original_image/public/2021-09/shape_05.jpg?itok=Pd_yMcA1)
![エネルギー分散型X線検出器付電解放射型走査電子顕微鏡(FE-SEM-EDX)](/jp/group/ids/sites/g/files/jwhtju791/files/styles/original_image/public/2021-09/shape_03.png?itok=RPRKqavQ)
電解放射型走査電子顕微鏡
(FE-SEM-EDS)
![アルマイトの断面から見た結晶成長状況(×80000)](/jp/group/ids/sites/g/files/jwhtju791/files/styles/original_image/public/2021-09/shape_02.jpg?itok=IV2S6zAp)
![プラチナコーティング](/jp/group/ids/sites/g/files/jwhtju791/files/styles/original_image/public/2021-11/shape_04.jpg?itok=S3le9nvQ)
構造解析
- 化合物の同定と結晶構造の決定
- 結晶粒あるいは格子歪の測定
- 残留応力の測定
- 集合組織及び結晶方向の決定
- 有機物、高分子等の同定・構造解析
- 各種材料の付着物や汚れの同定
- 各種コーティング膜、薄膜の分析
- 高分子材料の添加剤の分析
元素分析
- 表面汚染物の成分分析
- 鋼中介在物、腐食生成物の分析
- 浸炭層、窒化層の分析
- 粒界、界面の偏析現象の解析
![電子線マイクロアナライザ(EPMA)](/jp/group/ids/sites/g/files/jwhtju791/files/styles/original_image/public/2021-09/element_01_0.jpg?itok=03x-GhXI)
![ボイラチューブ腐食疲労断面の面分析](/jp/group/ids/sites/g/files/jwhtju791/files/styles/original_image/public/2021-09/element_02.jpg?itok=MVUU9he0)
結合状態
- 表面変質層の解析
- 酸化深さとその結合状態解析
- コーティング膜、薄膜の組成・状態分析
- 界面反応層の分析
![X線光電子分光分析装置(XPS)](/jp/group/ids/sites/g/files/jwhtju791/files/styles/original_image/public/2021-09/combined_state_01.jpg?itok=Mzx2sM17)
![ステンレス鋼不動態皮膜の深さ方向の分析](/jp/group/ids/sites/g/files/jwhtju791/files/styles/original_image/public/2021-09/combined_state_02.jpg?itok=Oq1VLhrC)